温度强迫系统接触式高低温测试ATC840

温度强迫系统接触式高低温测试 ATC840

用于需求高温、低温、高低温进行测试/温度控制的工艺，如：材料特性分析、温度循环测试、快速温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。



温度强迫系统接触式高低温测试 ATC840



接触式高低温设备是针对芯片可靠性测试而研发的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。



温度强迫系统接触式高低温测试 ATC840

应用场景：

桌面手动测试

配合测试机使用（ATE）



温度强迫系统接触式高低温测试 ATC840 优点

快速温度转换循环。

结构精密、减少占地面积的要求

温控精度±1℃

不用外置冷水机和压缩空气

结温控制

噪音较低

局部测试

在线测试